光电性能测试
基于EMV1288测量标准，对成像芯片关键性能参数一键式输出标准测试报告。
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Themis光电性能测试平台
随着视觉模组批量应用于各行各业，如何准确评估其光电性能成为重中之重。衡量视觉模组性能的指标众多，而不同厂家对同一指标测算单位并不统一。行业迫切需要建立统一规范的光电性能测评标准。
基于国标GBT41310-2022和EMVA1288标准研发，Themis系列光电性能测试平台是凌云光为满足国内不同相机/芯片成像性能测试标定的市场需求而推出的，可输出统一可对比的参数指标。共分为Themis Pro标准大型测试平台和Themis Box标准小型测试平台两种，方便用户测试不同成像靶面的相机/芯片。集成标准化硬件和软件，Themis光电性能测试平台致力于为相机/芯片支撑的多元场景提供真实的测试支持。
产品优势
测试结果准确可信：基于国家标准《视觉模组光电性能的图像式检测方法》，测试结果重复精度95%以上，可靠性强；
全自动易用性强：软件采用一键式检测设计直接输出测试结果，减少测试人员工作量，操作简单方便；
半定制，产品多样接受定制：只需4-6周可快速定制化集成解决方案；
产品成熟度高，可快速交付：十年研发经验，交付周期短，8-16周即可快速交付；
应用领域
芯片设计：Themis 可对生产制造的不同尺寸的 CCD、CMOS/EMCCD 成像芯片的性能精准测试并出具完整报告，助力芯片研发。
相机开发：Themis 可对备选芯片进行测试，辅助选型，完成入厂质检，以及完成相机的出厂终检等，支持 Cameralink、GIGE、USB3.0、CXP 等各种标准接口
相机使用：Themis 可快速完成批量相机入库质检，全检代替抽检以降低质量风险，保证批量采购的相机性能好、一致性高。
教学演示：作为教具，辅助理解芯片成像性能参数。
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